그간 유럽, 미주 지역을 돌아가며 2년마다 개최되었고 아시아에서는 일본에서만 개최되었던 이차이온분석학회 회의(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS-19)이 9월 29일부터 10월 4일까지 제주국제컨벤션센터(대표이사 강기권, ICC JEJU)에서 개최된다.

SIMS는 물리, 화학, 재료, 반도체 등의 여러분야가 참여하는 다학제 융합연구 분야로서 이온과 고체 표면의 충돌 현상과 표면이온화 과정을 이용하여 물체 표면의 극미량 성분 분석 및 깊이 분포를 측정하는 기술이다.

그 동안 독일, 프랑스, 영국 등 유럽에서는 기초 연구와 장비 개발이 주로 이루어져 왔으며 미국과 일본 등에서는 반도체 산업을 위주로 한 활용 분야에서 연구가 수행되어 왔다.

SIMS-19의 조직위원장인 문대원 박사(한국표준연구원)에 따르면 “한국은 반도체 및 디스플레이 분야의 선진국으로 SIMS 기초원리, 분석 장비 개발, 반도체 분석, 신소재 분석, 유기생체 고분자 분석, 생체 조직 분석, 지질학, 예술/고고학/범죄과학 등 다양한 SIMS 응용 관련 연구를 진행하고 있다.

또 이번 SIMS-19은 그 결과물들을 세계 석학들과 나눌 수 있는 최적의 기회가 될 것이며 국내 첨단 분석기술 연구, 반도체 산업, 소재 산업, 바이오의료 산업 등의 발전에 좋은 기회가 될 것“이라고 말했다.

업계에서는 금번 SIMS-19을 계기로 분석 기술 정보 국내 전달 및 국제 협력 연구 추진에 따른 나노 표면 첨단 분석 과학 분야의 수준 향상과 반도체 산업체의 SIMS 활용 연구자의 최신 기술 교육 및 정보교환 등의 긍정적 효과가 있을 것으로 기대하고 있다.